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電子制造LCD屏幕邊緣缺陷檢測(cè)應(yīng)用案例對(duì)顯示屏幕基板玻璃四條邊緣及Corner cuts,進(jìn)行邊緣破碎崩邊、裂紋、臟污、水滴等缺陷內(nèi)容的檢測(cè),并標(biāo)記出缺陷所在坐標(biāo),運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)檢測(cè)結(jié)束后,給出檢測(cè)結(jié)果。 一、需求描述: 1、檢測(cè)對(duì)象:顯示屏幕基板玻璃4條邊緣及Corner cuts; 2、檢測(cè)內(nèi)容:邊緣破碎崩邊 裂紋 臟污 水滴; 3、缺陷項(xiàng)程度排序:Edge>Crack>Flaw>Water; 4、內(nèi)容標(biāo)記:標(biāo)出大致缺陷所在坐標(biāo);運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)檢測(cè)結(jié)束后,需要給出結(jié)果; 5、Transfer speed : Array/CF:0~600mm/s; 6、相機(jī)從上往下拍照;安裝位置機(jī)構(gòu)限制高度小于 500mm。 二、技術(shù)要求: 1、最小缺陷面積邊長(zhǎng)>0.5 mm(以外接矩形為例); 2、程度高的缺陷檢出率要求99.999%; 3、允許缺陷程度低的誤判為程度高<5.0%,反向允許為0%。 方案架構(gòu) EGIS邊緣檢測(cè)方案由高平行度光源、線陣相機(jī)、控制器、算法平臺(tái)等組成,通過(guò)精確的安裝及準(zhǔn)確配置的參數(shù),基于圖像處理技術(shù)對(duì)圖像進(jìn)行標(biāo)注訓(xùn)練、圖像分割、圖像分類等,最終實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)的檢測(cè)。 方案優(yōu)勢(shì) 1、基于分類的目標(biāo)檢測(cè)工具對(duì)已知類型的缺陷進(jìn)行標(biāo)記訓(xùn)練,在生產(chǎn)過(guò)程中可以檢測(cè)當(dāng)前產(chǎn)品是否存在類似種類的缺陷,并輸出準(zhǔn)確的位置信息; 2、軟件界面實(shí)時(shí)播放雙線陣相機(jī)檢測(cè)圖像,直觀觀測(cè)面板質(zhì)量; 3、可實(shí)現(xiàn)每秒10張以上圖像處理; 4、可精準(zhǔn)定位缺陷的位置,同步實(shí)現(xiàn)缺陷檢測(cè)和分類。 |